Impurity concentration influence on the correlation of the x-ray lines intensity in metal-fullerene crystals
Gespeichert in:
| Datum: | 2009 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | A. N. Drozdov, A. S. Vus, V. E. Pukha, A. T. Pugachev |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
2009
|
| Schriftenreihe: | Physical surface engineering |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872962 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
The sputtering of silicon and carbon targets by accelerated ion by the fullerene C60
von: M. V. Maleev, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: M. V. Maleev, et al.
Veröffentlicht: (2015)
X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
von: Bochek, G.L., et al.
Veröffentlicht: (2011)
von: Bochek, G.L., et al.
Veröffentlicht: (2011)
X-ray line spectrometry in experiments with the aluminium Z-pinch
von: Anan’ev, S.S., et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: Anan’ev, S.S., et al.
Veröffentlicht: (2010)
SANS and x-ray studies of structural transitions in impurity-helium gel samples
von: V. B. Efimov, et al.
Veröffentlicht: (2020)
von: V. B. Efimov, et al.
Veröffentlicht: (2020)
X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
von: Grigas, J., et al.
Veröffentlicht: (2008)
von: Grigas, J., et al.
Veröffentlicht: (2008)
The size effect and x-ray fluorescenc spectra of metallic nanoparticles
von: Kolyada, Yu.E., et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: Kolyada, Yu.E., et al.
Veröffentlicht: (2017)
The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
von: Ju. Gaevskij, et al.
Veröffentlicht: (2014)
von: Ju. Gaevskij, et al.
Veröffentlicht: (2014)
X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
von: Fedorov, A.G., et al.
Veröffentlicht: (2001)
von: Fedorov, A.G., et al.
Veröffentlicht: (2001)
Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
von: V. B. Molodkin, et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: V. B. Molodkin, et al.
Veröffentlicht: (2010)
Concentration dependences of dielectric parameters of impurity-doped K2SO4 crystals
von: Yo. Stadnyk, et al.
Veröffentlicht: (2022)
von: Yo. Stadnyk, et al.
Veröffentlicht: (2022)
Concentration dependences of dielectric parameters of impurity-doped K2SO4 crystals
von: V. Y. Stadnyk, et al.
Veröffentlicht: (2022)
von: V. Y. Stadnyk, et al.
Veröffentlicht: (2022)
The Structure Features of Synthetic Apatites With REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: II. Fluorhydroxyapatites
von: E. A. Kalinichenko, et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: E. A. Kalinichenko, et al.
Veröffentlicht: (2016)
The Structure Features of Synthetic Apatites with REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: I. Hydroxylapatites
von: E. A. Kalinichenko, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: E. A. Kalinichenko, et al.
Veröffentlicht: (2015)
X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector
von: Mikhailov, I.F., et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: Mikhailov, I.F., et al.
Veröffentlicht: (2010)
Concentration maxima of the mobility of 2D electrons scattered by correlated impurity ions in thin doped layers
von: V. M. Mikheev
Veröffentlicht: (2019)
von: V. M. Mikheev
Veröffentlicht: (2019)
X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
von: I. M. Fodchuk, et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: I. M. Fodchuk, et al.
Veröffentlicht: (2013)
The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
von: M. Alizadeh, et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: M. Alizadeh, et al.
Veröffentlicht: (2018)
The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
von: M. Alizadeh, et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: M. Alizadeh, et al.
Veröffentlicht: (2018)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
von: Ya. Degoda, et al.
Veröffentlicht: (2012)
von: Ya. Degoda, et al.
Veröffentlicht: (2012)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
von: Ya. Dehoda, et al.
Veröffentlicht: (2012)
von: Ya. Dehoda, et al.
Veröffentlicht: (2012)
X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
von: V. M. Pylypiv, et al.
Veröffentlicht: (2011)
von: V. M. Pylypiv, et al.
Veröffentlicht: (2011)
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
von: Yu. Loya, et al.
Veröffentlicht: (2004)
von: Yu. Loya, et al.
Veröffentlicht: (2004)
X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
von: I. L. Shulpina, et al.
Veröffentlicht: (2011)
von: I. L. Shulpina, et al.
Veröffentlicht: (2011)
Cascade model of X-ray M emission for the atoms of heavy metals
von: Borovoy, M.O., et al.
Veröffentlicht: (2012)
von: Borovoy, M.O., et al.
Veröffentlicht: (2012)
Notes on coherent polarization X-ray radiation by relativistic electrons in a crystal
von: Morokhovskii, V.L.
Veröffentlicht: (2019)
von: Morokhovskii, V.L.
Veröffentlicht: (2019)
The study of the influence of X-ray irradiation on dislocation characteristics in LiF crystals
von: Petchenko, О.M., et al.
Veröffentlicht: (2021)
von: Petchenko, О.M., et al.
Veröffentlicht: (2021)
X-ray investigation of dibenzotetraaza|14|annulene thin films crystal structure
von: V. G. Udovitskij
Veröffentlicht: (2003)
von: V. G. Udovitskij
Veröffentlicht: (2003)
Toward robust detection of a faint narrow line in X-rays – the role of continuum-induced systematics
von: D. O. Savchenko, et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: D. O. Savchenko, et al.
Veröffentlicht: (2017)
Toward robust detection of a faint narrow line in X-rays – the role of continuum-induced systematics
von: D. O. Savchenko, et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: D. O. Savchenko, et al.
Veröffentlicht: (2017)
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
von: Molodkin, V.B., et al.
Veröffentlicht: (2016)
von: Molodkin, V.B., et al.
Veröffentlicht: (2016)
Distribution of local deformations in diamond crystals according to the analysis of Kikuchi lines profile intensities
von: M. D. Borcha, et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: M. D. Borcha, et al.
Veröffentlicht: (2013)
Techniques for x-ray focusing
von: V. E. Storizhko, et al.
Veröffentlicht: (2010)
von: V. E. Storizhko, et al.
Veröffentlicht: (2010)
Mixed ZnSxSe1–x crystals as a possible material for alpha-particle and X-ray detectors
von: O. G. Trubaieva, et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: O. G. Trubaieva, et al.
Veröffentlicht: (2018)
Mixed ZnSxSe1–x crystals as a possible material for alpha-particle and X-ray detectors
von: O. H. Trubaieva, et al.
Veröffentlicht: (2018)
von: O. H. Trubaieva, et al.
Veröffentlicht: (2018)
An influence of transition metal ions impurities on the luminescence of Li₂Zn₂(MoO₄)₃ crystals
von: Nadolinny, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2011)
von: Nadolinny, V.A., et al.
Veröffentlicht: (2011)
Observation of the new emission line at ~3.5 keV in X-ray spectra of galaxies and galaxy clusters
von: D. A. Iakubovskyi
Veröffentlicht: (2016)
von: D. A. Iakubovskyi
Veröffentlicht: (2016)
Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
von: N. G. Belyj, et al.
Veröffentlicht: (2013)
von: N. G. Belyj, et al.
Veröffentlicht: (2013)
Dependence of the anisotropy parameter of drag thermo-emf on the impurity concentration in the n-type germanium and silicon crystals
von: G. P. Gaidar, et al.
Veröffentlicht: (2017)
von: G. P. Gaidar, et al.
Veröffentlicht: (2017)
X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
von: Galiy, P.V., et al.
Veröffentlicht: (2005)
von: Galiy, P.V., et al.
Veröffentlicht: (2005)
Kinetics of changes in charge carrier concentration with doping in lead telluride-based alloys with transition metal impurities
von: E. P. Skipetrov, et al.
Veröffentlicht: (2015)
von: E. P. Skipetrov, et al.
Veröffentlicht: (2015)
Ähnliche Einträge
-
The sputtering of silicon and carbon targets by accelerated ion by the fullerene C60
von: M. V. Maleev, et al.
Veröffentlicht: (2015) -
X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
von: Bochek, G.L., et al.
Veröffentlicht: (2011) -
X-ray line spectrometry in experiments with the aluminium Z-pinch
von: Anan’ev, S.S., et al.
Veröffentlicht: (2010) -
SANS and x-ray studies of structural transitions in impurity-helium gel samples
von: V. B. Efimov, et al.
Veröffentlicht: (2020) -
X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
von: Grigas, J., et al.
Veröffentlicht: (2008)