Impurity concentration influence on the correlation of the x-ray lines intensity in metal-fullerene crystals

Impurity concentration influence on the correlation of the x-ray lines intensity in metal-fullerene crystals

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2009
Автори:	A. N. Drozdov, A. S. Vus, V. E. Pukha, A. T. Pugachev
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2009
Назва видання:	Physical surface engineering
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000872962
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

The sputtering of silicon and carbon targets by accelerated ion by the fullerene C60
за авторством: M. V. Maleev, та інші
Опубліковано: (2015)

Intensive X-ray source optimization
за авторством: Bochek, G.L., та інші
Опубліковано: (2005)

X-ray lines relative intensity depending on detector efficiency, foils and cases thickness for primary and scattered spectra
за авторством: Bochek, G.L., та інші
Опубліковано: (2011)

Generation of intense ultra-short X-ray pulses in wake field undulator
за авторством: Opanasenko, A.
Опубліковано: (2011)

X-ray line spectrometry in experiments with the aluminium Z-pinch
за авторством: Anan’ev, S.S., та інші
Опубліковано: (2010)

Intense X-ray sources based on Compton scattering in laser electron storage rings
за авторством: Gladkikh, P.I., та інші
Опубліковано: (2002)

SANS and x-ray studies of structural transitions in impurity-helium gel samples
за авторством: V. B. Efimov, та інші
Опубліковано: (2020)

3D magnetic field effects in the NSC KIPT compact intense X-ray generator
за авторством: Zelinsky, A., та інші
Опубліковано: (2004)

Gamma-ray-induced decrease of L-defect concentration in KDP single crystals
за авторством: Levchenko, A.N., та інші
Опубліковано: (2011)

The size effect and x-ray fluorescenc spectra of metallic nanoparticles
за авторством: Kolyada, Yu.E., та інші
Опубліковано: (2017)

X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)

Concentration dependences of dielectric parameters of impurity-doped K2SO4 crystals
за авторством: Yo. Stadnyk, та інші
Опубліковано: (2022)

Concentration dependences of dielectric parameters of impurity-doped K2SO4 crystals
за авторством: V. Y. Stadnyk, та інші
Опубліковано: (2022)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Concentration maxima of the mobility of 2D electrons scattered by correlated impurity ions in thin doped layers
за авторством: V. M. Mikheev
Опубліковано: (2019)

X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)

Purification of raw material for cesium iodide single crystals and impurity concentration by low-temperature directional crystallization
за авторством: Eksperiandova, L.P.
Опубліковано: (2010)

The Structure Features of Synthetic Apatites With REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: II. Fluorhydroxyapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2016)

The Structure Features of Synthetic Apatites with REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: I. Hydroxylapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2015)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)

X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector
за авторством: Mikhailov, I.F., та інші
Опубліковано: (2010)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Distribution of local deformations in diamond crystals according to the analysis of Kikuchi lines profile intensities
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2013)

The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)

Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)

Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray dosimetry of copper-doped CdGa₂S₄ single crystals
за авторством: Mustafaeva, S.N., та інші
Опубліковано: (2012)

The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)

The Spectra of X-ray and photoluminescence of high-resistance crystals of ZnSe
за авторством: M. Alizadeh, та інші
Опубліковано: (2018)

The structure and nanoindentation of C₆₀ films
за авторством: Pukha, V.E., та інші
Опубліковано: (2007)

Kinetics of changes in charge carrier concentration with doping in lead telluride-based alloys with transition metal impurities
за авторством: E. P. Skipetrov, та інші
Опубліковано: (2015)

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)

Toward robust detection of a faint narrow line in X-rays – the role of continuum-induced systematics
за авторством: D. O. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2017)

Toward robust detection of a faint narrow line in X-rays – the role of continuum-induced systematics
за авторством: D. O. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2017)

An influence of transition metal ions impurities on the luminescence of Li₂Zn₂(MoO₄)₃ crystals
за авторством: Nadolinny, V.A., та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: Shul’pina, I.L., та інші
Опубліковано: (2011)

Cascade model of X-ray M emission for the atoms of heavy metals
за авторством: Borovoy, M.O., та інші
Опубліковано: (2012)