X-ray determination of the dynamic displacement of the aluminum atoms in the single-phase state and in the eutectic Al-Si alloy
Збережено в:
| Дата: | 2014 |
|---|---|
| Автори: | O. N. Grigorev, A. I. Ustinov, M. V. Karpets, L. M. Melakh, S. A. Demchenkova |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2014
|
| Назва видання: | Electron Microscopy and Strength of Materials. Series: Physical Materials Science, Structure and Properties of Materials |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000348757 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Eutectic formation in the Al – Mg – Si system
за авторством: O. I. Trudonoshyn
Опубліковано: (2015)
за авторством: O. I. Trudonoshyn
Опубліковано: (2015)
The ternary eutectic in cobalt alloys with aluminum and tungsten
за авторством: H. P. Dmytriieva, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: H. P. Dmytriieva, та інші
Опубліковано: (2009)
Location of Al and Si atoms in substituted boron carbide
за авторством: V. V. Garbuz, та інші
Опубліковано: (2023)
за авторством: V. V. Garbuz, та інші
Опубліковано: (2023)
Cascade model of X-ray M emission for the atoms of heavy metals
за авторством: Borovoy, M.O., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Borovoy, M.O., та інші
Опубліковано: (2012)
The effect of nickel on the structure of Al0.878Si0.122 eutectic melt
за авторством: S. I. Mudryi, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: S. I. Mudryi, та інші
Опубліковано: (2015)
Mα X-ray emission spectrum of multi-ionized Au atoms
за авторством: Borovoy, M.O., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Borovoy, M.O., та інші
Опубліковано: (2006)
High-strength eutectic alloys of the ternary Al – Si – Mg system, alloyed by zinc and copper
за авторством: N. P. Korzhova, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: N. P. Korzhova, та інші
Опубліковано: (2015)
X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates
за авторством: N. V. Safriuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: N. V. Safriuk, та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Degoda, та інші
Опубліковано: (2012)
Anomalous conductivity in ZnSe single crystals by X-ray irradiation
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ya. Dehoda, та інші
Опубліковано: (2012)
X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)
Role of fluctuations in the coherent displacements of atomic equilibrium positions at second-order phase transitions
за авторством: Z. P. Mastropas, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Z. P. Mastropas, та інші
Опубліковано: (2013)
Role of fluctuations in the coherent displacements of atomic equilibrium positions at second-order phase transitions
за авторством: Z. P. Mastropas, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Z. P. Mastropas, та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
The influence of solidification rate on the formation quasicrystalline phase in of Ti – Cr – Al – Si alloys
за авторством: M. O. Krapivka, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: M. O. Krapivka, та інші
Опубліковано: (2017)
X-ray phase and structural study of Ce–Zn–Ga alloys
за авторством: Yu. V. Verbovytskyy
Опубліковано: (2024)
за авторством: Yu. V. Verbovytskyy
Опубліковано: (2024)
X-ray dosimetry of copper-doped CdGa2S4 single crystals
за авторством: S. N. Mustafaeva, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. N. Mustafaeva, та інші
Опубліковано: (2012)
Kinetic parameters of charge carrier traps in magnesium-aluminum spinel crystals after X-ray and UV irradiation
за авторством: Kobyakov, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Kobyakov, V.A., та інші
Опубліковано: (2006)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
Studies of hydrolysis of aluminum activated by additions of Ga–In–Sn eutectic alloy, bismuth or antimony
за авторством: F. D. Manilevich, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: F. D. Manilevich, та інші
Опубліковано: (2019)
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
The features of phase equilibrium in the system Al-Si with microheterogeneous liquid phase
за авторством: A. V. Mazur, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: A. V. Mazur, та інші
Опубліковано: (2017)
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
The eutectic alloy in the Nb—Ti—Al—Cr—Zr system
за авторством: N. P. Brodnikovskij, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: N. P. Brodnikovskij, та інші
Опубліковано: (2017)
Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)
Atomic static displacements and their effect on the short range order in alloys
за авторством: Gurskii, Z., та інші
Опубліковано: (1998)
за авторством: Gurskii, Z., та інші
Опубліковано: (1998)
Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
Change of Structure and Optical Properties of Multilayer C/Si X-Ray Mirrors under Heating
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. A. Zhuravel, та інші
Опубліковано: (2013)
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
Detection of structural features of objects using X-ray phase-contrast imaging method
за авторством: A. Ovcharenko, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: A. Ovcharenko, та інші
Опубліковано: (2024)
Detection of structural features of objects using X-ray phase-contrast imaging method
за авторством: A. Y. Ovcharenko, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: A. Y. Ovcharenko, та інші
Опубліковано: (2024)
Partial quasibinary eutectic in the system B4C−SiC
за авторством: D. A. Zakarjan
Опубліковано: (2015)
за авторством: D. A. Zakarjan
Опубліковано: (2015)
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)
Схожі ресурси
-
Eutectic formation in the Al – Mg – Si system
за авторством: O. I. Trudonoshyn
Опубліковано: (2015) -
The ternary eutectic in cobalt alloys with aluminum and tungsten
за авторством: H. P. Dmytriieva, та інші
Опубліковано: (2009) -
Location of Al and Si atoms in substituted boron carbide
за авторством: V. V. Garbuz, та інші
Опубліковано: (2023) -
Cascade model of X-ray M emission for the atoms of heavy metals
за авторством: Borovoy, M.O., та інші
Опубліковано: (2012) -
The effect of nickel on the structure of Al0.878Si0.122 eutectic melt
за авторством: S. I. Mudryi, та інші
Опубліковано: (2015)