Ways for reducing the errors of dielectric constant measurements at millimeter and submillimeter wavelengths within the surface plasmon resonance technique as applied to weakly absorbent dielectrics

Ways for reducing the errors of dielectric constant measurements at millimeter and submillimeter wavelengths within the surface plasmon resonance technique as applied to weakly absorbent dielectrics

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2024
Hauptverfasser:	V. K. Gavrikov, L. M. Lytvynenko, V. V. Myshenko, O. V. Polikarpov, A. M. Korolev, D. L. Chechotkin, I. S. Spevak
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2024
Schriftenreihe:	Radio Physics and Radio Astronomy
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001495753
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