Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film
Збережено в:
| Дата: | 2020 |
|---|---|
| Автори: | I. P. Studenyak, M. Kranjčec, Yu. Izai, V. I. Studenyak, M. M. Pop, L. M. Suslikov |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2020
|
| Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001127990 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2020) -
Еліпсометричні та спектрометричні дослідження тонкої плівки (Ga0,2In0,8)2Se3
за авторством: Studenyak, I. P., та інші
Опубліковано: (2020) -
Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021) -
Optical parameters of As-deposited and annealed (Ga0.3In0.7)2Se3 thin films
за авторством: M. Pop, та інші
Опубліковано: (2021) -
Оптичні параметри свіжоприготованих та відпалених тонких плівок (Ga0,3In0,7)2Se3
за авторством: Pop, M., та інші
Опубліковано: (2021)