The Method of Determining the Dielectric Relative Permittivity in the mm and submm Wavelength Ranges Based on the Measuring of the Plasmon-Polaritone Resonance Parameters
Збережено в:
Дата: | 2020 |
---|---|
Автори: | L. M. Lytvynenko, V. V. Myshenko, V. V. Bortsov, B. M. Lisachenko, O. V. Polikarpov, V. K. Havrykov, I. S. Spevak |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2020
|
Назва видання: | Radio Physics and Radio Astronomy |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001162376 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
THE METHOD OF DETERMINING THE DIELECTRIC RELATIVE PERMITTIVITY IN THE MM AND SUBMM WAVELENGTH RANGES BASED ON THE MEASURING OF THE PLASMON-POLARITONE RESONANCE PARAMETERS
за авторством: Lytvynenko, L. N., та інші
Опубліковано: (2020) -
WAYS TO REDUCE ERRORS IN MEASURING THE DIELECTRIC CONSTANT OF WEAKLY ABSORBING DIELECTRICS IN THE MILLIMETER AND SUBMILLIMETER (TERAHERTZ) WAVELENGTH RANGES BY THE SURFACE PLASMON RESONANCE METHOD
за авторством: Gavrikov, V. K., та інші
Опубліковано: (2024) -
Ways for reducing the errors of dielectric constant measurements at millimeter and submillimeter wavelengths within the surface plasmon resonance technique as applied to weakly absorbent dielectrics
за авторством: V. K. Gavrikov, та інші
Опубліковано: (2024) -
Surface plasmon polaritons in dielectric/metal/dielectric structures: metal layer thickness influence
за авторством: P. Kostrobij, та інші
Опубліковано: (2019) -
Comparative Analysis of Parameters of 1D Small-Period Diffraction Gratings at MM and SubMM Waves
за авторством: Kostenko, A. A.
Опубліковано: (2013)