A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
Збережено в:
| Дата: | 2019 |
|---|---|
| Автори: | N. M. Rozhenko, O. M. Hryhoriev, V. V. Kartuzov |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2019
|
| Назва видання: | Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000956897 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
Increase of exactness of quantitative estimates of the Hall—Williamson graphic method due to digital processing of X-ray patterns
за авторством: O. M. Hryhoriev, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: O. M. Hryhoriev, та інші
Опубліковано: (2017)
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
за авторством: Shchagin, A.V.
Опубліковано: (2004)
за авторством: Shchagin, A.V.
Опубліковано: (2004)
Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)
X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)
Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)
X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
Calibration of X-ray space telescopes
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2004)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)
Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)
X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)
Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)
Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
X-ray line spectrometry in experiments with the aluminium Z-pinch
за авторством: Anan’ev, S.S., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Anan’ev, S.S., та інші
Опубліковано: (2010)
Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)
Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)
Correlation of spectral analysis and X-ray diffraction study in identifying different types of coordinated tiosemicarbazone in the Ni(II) complex
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: Kavetskyy, T.S., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Kavetskyy, T.S., та інші
Опубліковано: (2012)
Toward robust detection of a faint narrow line in X-rays – the role of continuum-induced systematics
за авторством: D. O. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: D. O. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
Toward robust detection of a faint narrow line in X-rays – the role of continuum-induced systematics
за авторством: D. O. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: D. O. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2017)
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)
New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: Borcha, M.D., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Borcha, M.D., та інші
Опубліковано: (2019)
A NMR spectroscopic and X-ray diffraction study of coordination compounds of zinc with 3-(2-pyridyl)-1,2,4-triazole derivaties
за авторством: D. M. Khomenko, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: D. M. Khomenko, та інші
Опубліковано: (2012)
Inverse diffraction problem of determining the properties of a plasma object
за авторством: I. T. Selezov
Опубліковано: (2019)
за авторством: I. T. Selezov
Опубліковано: (2019)
X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)
Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B52, by powder X-ray diffraction
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray selected BL Lacertae objects: catalogue and statistical properties
за авторством: Kapanadze, B.Z.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Kapanadze, B.Z.
Опубліковано: (2012)
Схожі ресурси
-
X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014) -
Increase of exactness of quantitative estimates of the Hall—Williamson graphic method due to digital processing of X-ray patterns
за авторством: O. M. Hryhoriev, та інші
Опубліковано: (2017) -
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012) -
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012) -
On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)