Mikheev, V. M. (2019). Concentration maxima of the mobility of 2D electrons scattered by correlated impurity ions in thin doped layers.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Mikheev, V. M. Concentration Maxima of the Mobility of 2D Electrons Scattered by Correlated Impurity Ions in Thin Doped Layers. 2019.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Mikheev, V. M. Concentration Maxima of the Mobility of 2D Electrons Scattered by Correlated Impurity Ions in Thin Doped Layers. 2019.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.