$X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays$

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2019
Автори:	O. I. Oranska, Yu. I. Gornikov
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2019
Назва видання:	Chemistry, physics and technology of surface
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000971158
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Influence of sedimentation conditions on the formation of industrial deposits of bentonite clays
за авторством: Andreeva, O.О.
Опубліковано: (2020)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Free-Living Amoebas as a Representative of Bentonite Clay Prokaryotic-Eukaryotic Consortium
за авторством: V. P. Shyrobokov, та інші
Опубліковано: (2017)

Cryogenic technologies in production of pharmaceutical, cosmetic, agrotechnical formulations and biologically active food additives
за авторством: A. I. Osetskij, та інші
Опубліковано: (2009)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Innovation in the cosmetic industry: a brief overview
за авторством: I. S. Balanchuk
Опубліковано: (2020)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)

Trends in the Global and Ukrainian Markets of Cosmetics Products
за авторством: S. Y. Sviderska, та інші
Опубліковано: (2023)

Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

Correlation of spectral analysis and X-ray diffraction study in identifying different types of coordinated tiosemicarbazone in the Ni(II) complex
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)

Economic Efficiency of Foreign Economic Activities of the Kharkiv Cosmetics Cluster
за авторством: Ya. V. Kononenko
Опубліковано: (2014)

Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)

X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

Microdetector system for speedy X-ray studies
за авторством: O. S. Kovalchuk, та інші
Опубліковано: (2016)

A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
за авторством: Shchagin, A.V.
Опубліковано: (2004)