Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass

Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2019
Автори:	O. V. Makarenko, L. V. Poperenko, O. I. Zavalistyi, A. L. Yampolskiy
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2019
Назва видання:	Ukrainian journal of physics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001003925
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (1999)

Ellipsometric control of stress homogeneity in surface layer of amorphous metal alloy ribbons
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: Lendel, V.V., та інші
Опубліковано: (2010)

Ellipsometric study of ion implanted copper surface and its room temperature oxidation
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Ellipsometric control of quality of polished MgF₂ optical ceramics
за авторством: Maslov, V.P., та інші
Опубліковано: (2004)

Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: V. V. Lendel, та інші
Опубліковано: (2010)

Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
за авторством: Severynov, V.L., та інші
Опубліковано: (2005)

Ellipsometric Properties of Thin Films of Molybdenum at the Excitation of Surface Polaritons
за авторством: V. V. Lendel, та інші
Опубліковано: (2014)

Еліпсометрична діагностика поверхневого шару оптичного скла
за авторством: Makarenko, O. V., та інші
Опубліковано: (2019)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2015)

Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015)

Optical properties of the modified structures of surface layers of amorphous metallic alloy ribbons
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2006)

Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation
за авторством: Shybiko, Ya.A., та інші
Опубліковано: (2006)

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2016)

Localized surface plasmon resonance in Au nanoprisms on glass substrates
за авторством: O. G. Lopatynska, та інші
Опубліковано: (2015)

Influence of oxide layers on optical properties of copper in a wide spectral range
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Localized surface plasmon resonance in Au nanoprisms on glass substrates
за авторством: Lopatynska, O.G., та інші
Опубліковано: (2015)

Optical properties of graphene film growing on a thin copper layer
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2016)

Neural Network System for Transient Ischemic Attacks Diagnostics
за авторством: V. A. Golovko, та інші
Опубліковано: (2014)

Research of formation of apatite-like layer on the surface of glass-ceramic coatings for dental implants
за авторством: Savvova, O.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Ellipsometric investigation of β-Si₃N₄ ceramics with Mo and Al additives
за авторством: Prokopets', V.M., та інші
Опубліковано: (2005)

Investigation on surface, electrical and optical properties of ITO-Ag-ITO coated glass
за авторством: Aslan, Aslan, та інші
Опубліковано: (2015)

Development of optical-digital methods for control of structural elements surface for needs of technical diagnostics
за авторством: Z. T. Nazarchuk, та інші
Опубліковано: (2021)

Methods of joint determination of glass optical characteristics
за авторством: K. I. Ludanov, та інші
Опубліковано: (2013)

Obtaining and optical properties of the glasses of the GeS₂–HgS system
за авторством: Nechyporuk, B.D., та інші
Опубліковано: (2007)

Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate
за авторством: Bortchagovsky, E.G., та інші
Опубліковано: (2012)

The structure of oxide film on the porous silicon surface
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)

The structure of oxide film on the porous silicon surface
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Acousto-optic properties of GexS100–x glasses and acousto-optic modulator on their basis
за авторством: D. I. Bletskan, та інші
Опубліковано: (2014)

Formation of the ‘Coating—Substrate' Transient Diffusion Layer at Electrocrystallization
за авторством: E. F. Shtapenko, та інші
Опубліковано: (2014)

Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018)

Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate
за авторством: E. G. Bortchagovsky, та інші
Опубліковано: (2012)

Strength of optical glass under conditions of axial compression
за авторством: Okhrimenko, G.M., та інші
Опубліковано: (1985)

Polishing of precision surfaces of optoelectronic technology elements from glass, sitals, optical and semiconductor crystals. Review
за авторством: Yu. D. Filatov
Опубліковано: (2020)

Radiation-induced optical darkening and oxidation effects in As₂S₃ glass
за авторством: Kavetskyy, T.S.
Опубліковано: (2014)

Transient Electromagnetic Wave Scattering from Dispersive Anisotropic Layered Medium
за авторством: Malyuskin, A. V., та інші
Опубліковано: (2013)

Transient Electromagnetic Wave Scattering from Dispersive Anisotropic Layered Medium
за авторством: Malyuskin, A.V., та інші
Опубліковано: (2002)

Optical parameters of the film naturally formed on the surface of cadmium telluride single crystals
за авторством: Odarych, V.A., та інші
Опубліковано: (2013)

Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2020)