Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass
Збережено в:
Дата: | 2019 |
---|---|
Автори: | O. V. Makarenko, L. V. Poperenko, O. I. Zavalistyi, A. L. Yampolskyi |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2019
|
Назва видання: | Ukrainian Journal of Physics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001004363 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass
за авторством: O. V. Makarenko, та інші
Опубліковано: (2019) -
Optical constants of surface layer on gadolinium gallium garnet: ellipsometric study
за авторством: Belyaeva, A.I., та інші
Опубліковано: (1999) -
Ellipsometric control of stress homogeneity in surface layer of amorphous metal alloy ribbons
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2005) -
Optical properties of thin films of titanium with transient layers on them
за авторством: Lendel, V.V., та інші
Опубліковано: (2010) -
Ellipsometric study of ion implanted copper surface and its room temperature oxidation
за авторством: Poperenko, L.V., та інші
Опубліковано: (2005)