Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
Збережено в:
Дата: | 2019 |
---|---|
Автори: | A. O. Druzhinin, Yu. M. Khoverko, I. P. Ostrovskii, N. S. Liakh-Kaguy, O. A. Pasynkova |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2019
|
Назва видання: | Technology and design in electronic equipment |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001034087 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозиторії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
за авторством: Druzhinin, A.O., та інші
Опубліковано: (2019) -
Negative magnetoresistance in indium antimonide whiskers doped with tin
за авторством: Druzhinin, A., та інші
Опубліковано: (2016) -
Negative magnetoresistance in indium antimonide whiskers doped with tin
за авторством: A. Druzhinin, та інші
Опубліковано: (2016) -
Features frequency conductivity of silicon sensor cryogenic temperatures
за авторством: A. A. Druzhinin, та інші
Опубліковано: (2016) -
Indium antimonide nanowires arrays for promising thermoelectric converters
за авторством: G. G. Gorokh, та інші
Опубліковано: (2015)