Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
Збережено в:
| Дата: | 2019 |
|---|---|
| Автори: | A. D. Scorbun, S. V. Gabielkov, I. V. Zhyganiuk, V. G. Kudlai, P. E. Parkhomchuk, S. A. Chikolovets |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2019
|
| Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001083642 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)
Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)
On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)
Метод обробки даних рентгенівської дифракції для багатофазних матеріалів з низьким вмістом фаз
за авторством: Skorbun, A. D., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Skorbun, A. D., та інші
Опубліковано: (2019)
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)
The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)
Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)
Industrial tomography from low-energy X-ray projection data
за авторством: S. L. Zolotarev, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: S. L. Zolotarev, та інші
Опубліковано: (2009)
New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)
Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)
Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: Borcha, M.D., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Borcha, M.D., та інші
Опубліковано: (2019)
Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)
X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)
The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)
Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)
X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)
Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)
Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)
X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)
The updated model of microstructure evolution of lava-like fuel-containing materials of 4th block of Chornobyl NPP. Brown ceramics
за авторством: S. V. Gabielkov, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: S. V. Gabielkov, та інші
Опубліковано: (2021)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)
Whitham's Method and Dubrovin-Novikov Bracket in Single-Phase and Multiphase Cases
за авторством: Maltsev, A.Y.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Maltsev, A.Y.
Опубліковано: (2012)
X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)
The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)
Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)
X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al₂O₃ (0001) substrates
за авторством: Safriuk, N.V., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Safriuk, N.V., та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)
Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafraniuk, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. P. Shafraniuk, та інші
Опубліковано: (2017)
Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafranjuk, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. P. Shafranjuk, та інші
Опубліковано: (2017)
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
за авторством: Shchagin, A.V.
Опубліковано: (2004)
за авторством: Shchagin, A.V.
Опубліковано: (2004)
A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B₅₂, by powder X-ray diffraction
за авторством: Kurakevych, O.O., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Kurakevych, O.O., та інші
Опубліковано: (2013)
Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)
Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)
Схожі ресурси
-
Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019) -
Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000) -
Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016) -
On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022) -
Метод обробки даних рентгенівської дифракції для багатофазних матеріалів з низьким вмістом фаз
за авторством: Skorbun, A. D., та інші
Опубліковано: (2019)