Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
Збережено в:
Дата: | 2022 |
---|---|
Автори: | S. I. Drapak, S. V. Gavrylyuk, Y. B. Khalavka, V. D. Fotiy, P. M. Fochuk, O. I. Fediv |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2022
|
Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001377604 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Репозиторії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
за авторством: S. I. Drapak, та інші
Опубліковано: (2022) -
Характеристика наноструктурованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії
за авторством: Drapak, S.I., та інші
Опубліковано: (2022) -
X-ray characterization of ZnSe single crystals doped with Mg
за авторством: Fedorov, A.G., та інші
Опубліковано: (2001) -
Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015) -
Dynamical Theory of Triple-Crystal X-ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2016)