Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2022
Автори: S. I. Drapak, S. V. Gavrylyuk, Y. B. Khalavka, V. D. Fotiy, P. M. Fochuk, O. I. Fediv
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2022
Назва видання:Ukrainian journal of physics
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001377604
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Репозиторії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси