$Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods$

Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2022
Автори:	S. I. Drapak, S. V. Gavrylyuk, Y. B. Khalavka, V. D. Fotiy, P. M. Fochuk, O. I. Fediv
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2022
Назва видання:	Ukrainian journal of physics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001377604
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозиторії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Будьте першим, хто залишить коментар!