$Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods$

Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2022
Hauptverfasser:	S. I. Drapak, S. V. Havryliuk, Yu. B. Khalavka, V. D. Fotii, P. M. Fochuk, O. I. Fediv
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2022
Schriftenreihe:	Ukrainian Journal of Physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001377662
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Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

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