Gemechu, N., & Abebe, T. (2018). Structural characterization and thickness profile of pulsed laser-deposited KY3F10: Ho3+ thin films.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Gemechu, N., та T. Abebe. Structural Characterization and Thickness Profile of Pulsed Laser-deposited KY3F10: Ho3+ Thin Films. 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Gemechu, N., та T. Abebe. Structural Characterization and Thickness Profile of Pulsed Laser-deposited KY3F10: Ho3+ Thin Films. 2018.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.