Structural characterization and thickness profile of pulsed laser-deposited KY3F10: Ho3+ thin films
Gespeichert in:
| Datum: | 2018 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2018
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| Schriftenreihe: | Ukrainian journal of physics |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000854128 |
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| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |