Druzhynin, A. O., Kutrakov, O. P., Nichkalo, S. I., & Stasiv, V. M. (2018). Information and measuring system on the basis of strain sensors based on silicon microcrystals.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Druzhynin, A. O., O. P. Kutrakov, S. I. Nichkalo, та V. M. Stasiv. Information and Measuring System on the Basis of Strain Sensors Based on Silicon Microcrystals. 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Druzhynin, A. O., et al. Information and Measuring System on the Basis of Strain Sensors Based on Silicon Microcrystals. 2018.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.