Lytvyn, P. M., Malyuta, S. V., Indutnyi, I. Z., Efremov, A. A., Slobodyan, O. V., Minko, V. I., . . . Prokopenko, I. V. (2018). Features of mechanical scanning probe lithography on graphene oxide and As(Ge)Se chalcogenide resist.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Lytvyn, P. M., S. V. Malyuta, I. Z. Indutnyi, A. A. Efremov, O. V. Slobodyan, V. I. Minko, A. N. Nazarov, O. V. Borysov, та I. V. Prokopenko. Features of Mechanical Scanning Probe Lithography on Graphene Oxide and As(Ge)Se Chalcogenide Resist. 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Lytvyn, P. M., et al. Features of Mechanical Scanning Probe Lithography on Graphene Oxide and As(Ge)Se Chalcogenide Resist. 2018.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.