Tatyanenko, N. P., Roshchina, N. N., Gromashevskii, V. L., Svechnikov, G. S., Zavyalova, L. V., & Snopok, B. A. (2018). Semiconductor surface spectroscopy using transverse acousto-electric effect: Role of surface charge in photo-processes at ZnS/Si interface.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Tatyanenko, N. P., N. N. Roshchina, V. L. Gromashevskii, G. S. Svechnikov, L. V. Zavyalova, та B. A. Snopok. Semiconductor Surface Spectroscopy Using Transverse Acousto-electric Effect: Role of Surface Charge in Photo-processes at ZnS/Si Interface. 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Tatyanenko, N. P., et al. Semiconductor Surface Spectroscopy Using Transverse Acousto-electric Effect: Role of Surface Charge in Photo-processes at ZnS/Si Interface. 2018.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.