"In-gap" spectroscopy: Reflected-wave phase and film characterization
Збережено в:
Дата: | 2018 |
---|---|
Автор: | A. V. Turchin |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2018
|
Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000940855 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
"In-gap" spectroscopy: Reflected-wave phase and film characterization
за авторством: O. V. Turchyn
Опубліковано: (2018) -
Sub-kelvin Andreev reflection spectroscopy of superconducting gaps in FeSe
за авторством: D. L. Bashlakov, та інші
Опубліковано: (2019) -
Composite films of graphene oxide with semiconducting carbon nanotubes: Raman spectroscopy characterization
за авторством: N. V. Kurnosov, та інші
Опубліковано: (2021) -
Characterization of gaps in the spectrum of the Hill operator with distributional potential
за авторством: V. N. Moliboga
Опубліковано: (2013) -
Mechanisms of normal reflection at metal interfaces studied by Andreev-reflection spectroscopy
за авторством: Gloos, K., та інші
Опубліковано: (2014)