Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
Збережено в:
| Дата: | 2018 |
|---|---|
| Автори: | Yu. Yu. Bacherikov, R. V. Konakova, O. B. Okhrimenko, N. I. Berezovska, O. S. Lytvyn, L. M. Kapitanchuk, A. M. Svetlichnyi |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2018
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000941356 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018)
Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018)
Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2017)
Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2017)
Evolution of structural and electrophysical parameters of Ni/SiC contacts at rapid thermal annealing
за авторством: Litvinov, V.L., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Litvinov, V.L., та інші
Опубліковано: (2002)
Optical properties of dysprosium monoantimonide thin films
за авторством: I. G. Tabatadze, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: I. G. Tabatadze, та інші
Опубліковано: (2013)
Optical properties of dysprosium monoantimonide thin films
за авторством: Tabatadze, I.G., та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: Tabatadze, I.G., та інші
Опубліковано: (2013)
Investigation of SiC films obtained on a porous-Si/Si substrate
за авторством: V. V. Kidalov, та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: V. V. Kidalov, та інші
Опубліковано: (2024)
Comparative characteristics of TiO₂(Er₂O₃, Dy₂O₃)/por-SiC/SiC heterostructures (Review)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2020)
Interface features of SiO2/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO2 thin films
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2012)
Interface features of SiO₂/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO₂ thin films
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2012)
Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)
Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO₂/SiC structures
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2002)
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2002)
Study of postimplantation annealing of SiC
за авторством: Avramenko, S.F., та інші
Опубліковано: (2001)
за авторством: Avramenko, S.F., та інші
Опубліковано: (2001)
Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2014)
Variation of optical parameters of multilayer structures with thin silicon layers at laser annealing
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)
за авторством: Okhrimenko, O.B.
Опубліковано: (2014)
Effect of rapid thermal annealing on properties of contacts Au-Mo-TiBx-GaAs
за авторством: Venger, E.F., та інші
Опубліковано: (1999)
за авторством: Venger, E.F., та інші
Опубліковано: (1999)
Effect of buffer layer of porous silicon carbide on the interface with the oxide layer (review)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. B. Okhrimenko
Опубліковано: (2012)
Substitution of calcium with neodymium and dysprosium in hydroxyapatite structure
за авторством: Get‘man, E.I., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Get‘man, E.I., та інші
Опубліковано: (2005)
Kinetics dispersion during annealing in vacuum of thin chromium-copper double-film deposited onto oxide materials
за авторством: I. I. Hab, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: I. I. Hab, та інші
Опубліковано: (2019)
Investigation of thin films deposition into porous material
за авторством: Sedláková, L., та інші
Опубліковано: (2006)
за авторством: Sedláková, L., та інші
Опубліковано: (2006)
On the prospects of using porous indium phosphide as substrates for indium nitride films
за авторством: Ja. A. Sychikova
Опубліковано: (2010)
за авторством: Ja. A. Sychikova
Опубліковано: (2010)
The structure of oxide film on the porous silicon surface
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)
The structure of oxide film on the porous silicon surface
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: O. I. Zavalistyi, та інші
Опубліковано: (2020)
Crystallization of rapidly quenched ribbons on the base of Fe₈₂Si₂B₁₆ under isothermal annealing
за авторством: Brud'ko, O.P., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Brud'ko, O.P., та інші
Опубліковано: (2005)
Optical studies of as-deposited and annealed Cu₇GeS₅I thin films
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Studenyak, I.P., та інші
Опубліковано: (2016)
Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Ya. Bratus, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Ya. Bratus, та інші
Опубліковано: (2015)
Thermal annealing and evolution of defects in neutron-irradiated cubic SiC
за авторством: Bratus, V.Ya., та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: Bratus, V.Ya., та інші
Опубліковано: (2015)
The impact of low temperature thermal annealing on optical properties of thin composite films
за авторством: Gorbov, I. V., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Gorbov, I. V., та інші
Опубліковано: (2014)
Structural transformation in Zr/Mg multilayer on Si substrate after annealing
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2017)
Structural transformation in Zr/Mg multilayer on Si substrate after annealing
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: Konotopsky, L.E., та інші
Опубліковано: (2018)
Thin polyaniline films on a polyethylene terephthalate substrate as Cr(VI) adsorbents
за авторством: Yu. Stetsiv, та інші
Опубліковано: (2021)
за авторством: Yu. Stetsiv, та інші
Опубліковано: (2021)
Optical studies of as-deposited and annealed Cu7GeS5I thin films
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: I. P. Studenyak, та інші
Опубліковано: (2016)
Spectroscopy of films of polysilanes/porous silicon and titanium oxides nanocomposites
за авторством: N. I. Ostapenko, та інші
Опубліковано: (2011)
за авторством: N. I. Ostapenko, та інші
Опубліковано: (2011)
Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film
за авторством: S. C. Her, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: S. C. Her, та інші
Опубліковано: (2014)
Annealing Effect on the Microstructure and Mechanical Properties of a Thin Titanium Nitride Film
за авторством: Her, S.C., та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: Her, S.C., та інші
Опубліковано: (2014)
Дослідження плівок SiC, отриманих на підкладинці porous-Si/Si
за авторством: Kidalov, V. V., та інші
Опубліковано: (2024)
за авторством: Kidalov, V. V., та інші
Опубліковано: (2024)
Electrical and photoelectrical properties of iodine modified porous silicon on silicon substrates
за авторством: I. B. Olenych
Опубліковано: (2012)
за авторством: I. B. Olenych
Опубліковано: (2012)
Electrical and photoelectrical properties of iodine modified porous silicon on silicon substrates
за авторством: Olenych, І.B.
Опубліковано: (2012)
за авторством: Olenych, І.B.
Опубліковано: (2012)
Схожі ресурси
-
Thin dysprosium oxide films formed by rapid thermal annealing on porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018) -
Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2018) -
Comparison of properties inherent to thin titanium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC and porous SiC substrates
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2018) -
Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Yu. Yu. Bacherikov, та інші
Опубліковано: (2017) -
Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures
за авторством: Bacherikov, Yu.Yu., та інші
Опубліковано: (2017)