Dolynenko, V. V., Shapovalov, Y. V., Kuts, Y. V., Redka, M. O., & Uchanin, V. M. (2018). Modeling the transient processes in measurement channel of eddy-current flaw detector.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Dolynenko, V. V., Ye. V. Shapovalov, Yu. V. Kuts, M. O. Redka, та V. M. Uchanin. Modeling the Transient Processes in Measurement Channel of Eddy-current Flaw Detector. 2018.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Dolynenko, V. V., et al. Modeling the Transient Processes in Measurement Channel of Eddy-current Flaw Detector. 2018.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.