Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
Gespeichert in:
| Datum: | 2018 |
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| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2018
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| Schriftenreihe: | Technology and design in electronic equipment |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000952630 |
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| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS| Keine Beschreibung verfügbar. |