Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
Збережено в:
Дата: | 2017 |
---|---|
Автор: | R. Vishwakarma |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2017
|
Назва видання: | Ukrainian Journal of Physics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000711365 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Thickness-dependent structural, electrical, and optical properties of ZnS thin films deposited by thermal evaporation
за авторством: R. Vishwakarma
Опубліковано: (2017) -
Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017) -
Structural and optical study of ZnS thin films prepared by radio frequency magnetron sputtering at different substrate temperatures
за авторством: Le Kong, та інші
Опубліковано: (2017) -
Electrophysical properties of heterostructures CuS/ZnS and PCTFE–CuS/ZnS system
за авторством: S. L. Prokopenko, та інші
Опубліковано: (2015) -
Affects deposition time and substrate temperature on optical properties of ZnO thin film
за авторством: A. D. Pogrebnyak, та інші
Опубліковано: (2011)