Gritsulenko, S. I. (2017). The Measurement of Intellectual Property: Evaluation of Technological Patents Based on the Integral Index.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Gritsulenko, S. I. The Measurement of Intellectual Property: Evaluation of Technological Patents Based on the Integral Index. 2017.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Gritsulenko, S. I. The Measurement of Intellectual Property: Evaluation of Technological Patents Based on the Integral Index. 2017.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.