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Impact of traps on current-voltage characteristic of n+-n-n+ diode

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
1. Verfasser:	P. M. Kruglenko
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000741627
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Institution

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