Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs
Збережено в:
Дата: | 2017 |
---|---|
Автори: | V. G. Kravets, V. V. Prorok, L. V. Poperenko, I. A. Shaykevich |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2017
|
Назва видання: | Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000778504 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: T. S. Rozouvan, та інші
Опубліковано: (2015) -
Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique
за авторством: Rozouvan, T.S., та інші
Опубліковано: (2015) -
Using ellipsometry methods for depth analyzing the optical disc data layer relief structures
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2008) -
Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures
за авторством: A. L. Yampolskiy, та інші
Опубліковано: (2018) -
Ellipsometry examination of copper alloys with transitive metals
за авторством: Filipov, Y.V., та інші
Опубліковано: (2004)