Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs

Ellipsometry and optical spectroscopy of low-dimensional family TMDs

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
Hauptverfasser:	V. G. Kravets, V. V. Prorok, L. V. Poperenko, I. A. Shaykevich
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000778504
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