Зображення обкладинки

Modeling of X-ray rocking curves for layers after two-stage ion-implantation

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2017
Автори:	O. I. Liubchenko, V. P. Kladko, Yo. Gudymenko
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2017
Назва видання:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000778515
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

X-Ray Diffractometry of Lanthanum-Doped Iron—Yttrium Garnet Structures after Ion Implantation
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers
за авторством: O. I. Liubchenko, та інші
Опубліковано: (2019)

Structural-phase changes in the near-surface layers of the titanium alloy TiNi, after ion implantation
за авторством: A. D. Pogrebnjak, та інші
Опубліковано: (2009)

Ion implantation, ion-beam mixing during simultaneous ion implantation and metal deposition
за авторством: M. A. Lisovenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Research of recombination characteristics of Cz-Si implanted with iron ions
за авторством: D. V. Gamov, та інші
Опубліковано: (2013)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

Pulse pressure classes and pacing parameters in patients at the annual stage after implantation
за авторством: M. V. Pochinskaja, та інші
Опубліковано: (2017)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2010)

The research of X-ray and gamma radiation absorption by layered structures
за авторством: Deiev, O.S., та інші
Опубліковано: (2016)

Investigation of Plasmon Gold Film Nanostructures by Means of both X-Ray Reflectometry and Diffractometry
за авторством: A. I. Gudymenko, та інші
Опубліковано: (2015)

Investigation of photodiode formation processes in insb by using beryllium ion implantation
за авторством: Yu. V. Holtvianskyi, та інші
Опубліковано: (2017)

Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry
за авторством: Fodchuk, І.М., та інші
Опубліковано: (2010)

Research of recombination characteristics of Cz-Si implanted with iron ions
за авторством: D. V. Hamov, та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of helium ion implantation on the form of an elementary cell in near-surface layers of single crystals
за авторством: I. P. Yaremii, та інші
Опубліковано: (2013)

Distribution of chemical elements in the surface layer of the films implanted ions SI+ with yttrium iron garnet
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2014)

Effect of X-ray suppression system upon parameters of electrostatic accelerator ion beam
за авторством: I. G. Ignatev, та інші
Опубліковано: (2014)

Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Ion sources optimization for high energy ion implantation by computer simulation
за авторством: Litovko, I.V., та інші
Опубліковано: (2008)

Simulation and Diagnostics of Strains in the Subsurface Layers of Gadolinium—Gallium Garnet Single Crystals Implanted with F+ Ions
за авторством: V. O. Kotsiubynskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Formation of structural heterogeneity of the near-surface layer of films of iron-yttrium granatos by implantation of Si+ ions
за авторством: B. K. Ostafiichuk, та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates
за авторством: N. V. Safriuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

The study of the oxide coating effect on bone–implant interface formation by means of electron microscopy method with energy dispersive x-ray analysis
за авторством: Gudakova, A.A., та інші
Опубліковано: (2007)

Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)

Modelling and diagnostics of damages and strains in a crystal of Gd3Ga5O12 after implantation of F ions
за авторством: V. O. Kotsiubynskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)

Modelling of X-ray images of digital X-ray-TV system based on scintillation screen and CCD matrix
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2017)

Ion beam technologies of surface modification. I. Ion cleaning and high dose implantation
за авторством: V. A. Belous, та інші
Опубліковано: (2003)

Detection and establishment of the nature of the anomalous x-ray optical effect in two-layer systems of the type &quot;substrate–coating&quot;
за авторством: V. A. Finkel, та інші
Опубліковано: (2020)

X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Magnetic structure of subsurface layers of single crystalline yttrium-iron garnet films implanted with Si+ ions with various energies
за авторством: Pylypiv, V.M., та інші
Опубліковано: (2012)

Magnetic structure of subsurface layers of single crystalline yttrium-iron garnet films implanted with Si+ ions with various energies
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2012)

Implantation of deuterium and helium ions into composite structure with tantalum coating
за авторством: Bobkov, V.V., та інші
Опубліковано: (2018)

Influence of ion implantation and annealing on composition and structure of GaAs surface
за авторством: Normuradov, M.T., та інші
Опубліковано: (2002)

Scattered X-ray radiation algorithmic compensation procedure in the X-ray imaging as an alternative to hardware methods
за авторством: Yu. Danyk, та інші
Опубліковано: (2021)

Dynamical Diffractometry of Defects and Strains in Gd3Ga5O12 Garnet Crystals After Implantation with F+ Ions
за авторством: O. S. Skakunova, та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Frequency of parametric X-ray radiation
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2023)

Parametric X-ray radiation in polycrystals
за авторством: Alekseev, V.I., та інші
Опубліковано: (2019)

Portable X-ray TV system
за авторством: V. A. Troitskij
Опубліковано: (2013)