Зображення обкладинки

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2022
Автори:	O. I. Oranska, Yu. I. Hornikov, V. M. Hunko, A. V. Brychka
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2022
Назва видання:	Surface
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001396868
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray parameters of nanocrystalline microstructure titanium obtained by cryodeformation
за авторством: Ju. M. Plotnikova, та інші
Опубліковано: (2016)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B52, by powder X-ray diffraction
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS3 from x-ray diffraction data
за авторством: K. A. Yagotintsev, та інші
Опубліковано: (2012)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Features of structural changes in mosaic Ge:Sb according to X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction data
за авторством: M. D. Borcha, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

New automated shear cell with diamond anvils for in situ studies of materials using X-ray diffraction
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2015)

A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Correlation of spectral analysis and X-ray diffraction study in identifying different types of coordinated tiosemicarbazone in the Ni(II) complex
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: Kavetskyy, T.S., та інші
Опубліковано: (2012)

X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al2O3(0001) substrates
за авторством: N. V. Safriuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Synthesis, properties and application possibilities of X-ray luminescent nanocrystalline lanthanum phosphate
за авторством: A. P. Kusyak, та інші
Опубліковано: (2022)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs40 xS60 glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: T. S. Kavetskyy, та інші
Опубліковано: (2012)

Diffractive physics at the LHC
за авторством: M. TrzebiЁЅski
Опубліковано: (2019)

Diffractive physics at the LHC
за авторством: M. TrzebiЁЅski
Опубліковано: (2019)

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafraniuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafranjuk, та інші
Опубліковано: (2017)

A NMR spectroscopic and X-ray diffraction study of coordination compounds of zinc with 3-(2-pyridyl)-1,2,4-triazole derivaties
за авторством: D. M. Khomenko, та інші
Опубліковано: (2012)

Composition of Terrestrial Weathering Products of Sikhote-Alin and Chinga Iron Meteorites Studied by Mцssbauer Spectroscopy and X-Ray Diffraction Analysis
за авторством: V. P. Ivanytskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Comparison of the TIP4P-2005, SWM4-DP and BK3 interaction potentials of liquid water with respect to their consistency with neutron and X-ray diffraction data of pure water
за авторством: Steinczinger, Z., та інші
Опубліковано: (2013)

Phase transformations in nanocomposites based on fumed silica, alumina and rare earth metal oxides Ln2O3 (Ln = Nd, Gd)
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2017)

Models of Deformation Dependences of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction in Single Crystals for Various Diffraction Conditions
за авторством: S. M. Brovchuk, та інші
Опубліковано: (2014)

The accuracy of diffraction patterns taken in a diamond-anvil cell using an X-ray diffractometer according to the Dobrovol&#039;skii–Shvedov method
за авторством: N. V. Novikov, та інші
Опубліковано: (2013)

Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of &quot;new_profile&quot; soft-ware for x-ray diffraction data treatment
за авторством: M. V. Reshetnjak, та інші
Опубліковано: (2008)

Diffraction Efficiency of Second Order Bragg Diffraction at Interaction of Light with Ultrasound under Double Bragg’s Angle
за авторством: Kupchenko, L. F., та інші
Опубліковано: (2013)

Diffraction Control of Optical Discs Microrelief
за авторством: Antonov, E. E., та інші
Опубліковано: (2016)