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Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
Hauptverfasser:	Yu. Yu. Bacherikov, R. V. Konakova, O. B. Okhrimenko, N. I. Berezovska, L. M. Kapitanchuk, A. M. Svetlichnyi
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000806885
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