Investigations of the deep-level parameters in semiconductors

Investigations of the deep-level parameters in semiconductors

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
1. Verfasser:	I. G. Tursunov
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Ukrainian Journal of Physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000818564
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