Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits

Qubit method for deductive fault analysis of logic circuits

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2017
Hauptverfasser:	V. I. Khakhanov, I. V. Emeljanov, M. M. Ljubarskij, S. V. Chumachenko, E. I. Litvinova, T. B. Amer
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2017
Schriftenreihe:	Electronic modeling
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000827060
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