Localization of elongated subsurface defects in case of movement of the primary field source on the surface of metallic product
Збережено в:
Дата: | 2016 |
---|---|
Автор: | I. I. Tryhub |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2016
|
Назва видання: | Information extraction and processing |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000531423 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Detection of subsurface local defects of metallic structures using the method of correlation signal processing
за авторством: Ya. P. Kulynych, та інші
Опубліковано: (2013) -
The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014) -
Detection of planar subsurface defects in fiberglass plastic composite panels by optical-acoustic method
за авторством: L. I. Muravskyi, та інші
Опубліковано: (2022) -
Theory of oscillations in the STM conductance resulting from subsurface defects (Review Article)
за авторством: Avotina, Ye.S., та інші
Опубліковано: (2010) -
Dynamical Theory of Grazing Diffuse Scattering of X-Rays by a Crystal with Subsurface Defects
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)