Electromigration effects at epitaxial growth of thin films: Phase-field modeling
Збережено в:
| Дата: | 2021 |
|---|---|
| Автор: | A. V. Dvornichenko |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
2021
|
| Назва видання: | Ukrainian journal of physics |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001245019 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Electromigration effects at epitaxial growth of thin films: Phase-field modeling
за авторством: A. V. Dvornychenko
Опубліковано: (2021) -
Origin of an enhanced colossal magnetoresistance effect in epitaxial Nd₀.₅₂Sr₀.₄₈MnO₃ thin films
за авторством: Prokhorov, V.G., та інші
Опубліковано: (2011) -
Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures
за авторством: A. V. Ivanchenko, та інші
Опубліковано: (2012) -
Properties of CdTe thin films prepared by hot wall epitaxy
за авторством: Bilevych, Ye.O., та інші
Опубліковано: (2004) -
Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures
за авторством: O. V. Ivanchenko, та інші
Опубліковано: (2012)