Electromigration effects at epitaxial growth of thin films: Phase-field modeling
Збережено в:
Дата: | 2021 |
---|---|
Автор: | A. V. Dvornychenko |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2021
|
Назва видання: | Ukrainian Journal of Physics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001245231 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Electromigration effects at epitaxial growth of thin films: Phase-field modeling
за авторством: A. V. Dvornichenko
Опубліковано: (2021) -
Modelling of processes of formation of pyramidal structures during epitaxial growth
за авторством: V. O. Kharchenko, та інші
Опубліковано: (2015) -
Origin of an enhanced colossal magnetoresistance effect in epitaxial Nd₀.₅₂Sr₀.₄₈MnO₃ thin films
за авторством: Prokhorov, V.G., та інші
Опубліковано: (2011) -
Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures
за авторством: A. V. Ivanchenko, та інші
Опубліковано: (2012) -
Properties of CdTe thin films prepared by hot wall epitaxy
за авторством: Bilevych, Ye.O., та інші
Опубліковано: (2004)