Venher, Y. F., Melnychuk, Y., Melnychuk, O. V., & Semikina, T. V. (2016). IR spectroscopic study of thin ZnO films grown using the atomic layer deposition method.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Venher, Ye. F., Yu Melnychuk, O. V. Melnychuk, та T. V. Semikina. IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method. 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Venher, Ye. F., et al. IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method. 2016.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.