Microdetector system for speedy X-ray studies

Microdetector system for speedy X-ray studies

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2016
Автори:	O. S. Kovalchuk, V. V. Burdin, V. O. Kyva, V. M. Militsiia, N. V. Minakov, Ye. O. Petrenko, V. M. Puhach, D. I. Storozhyk, Y. Khoizer, S. O. Firstov
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2016
Назва видання:	Nuclear physics and atomic energy
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000700219
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Usage of the micropixel detector TimePix for observation of the dynamics of phase transitions in metals
за авторством: M. V. Puhach, та інші
Опубліковано: (2012)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

Study on the synchrotron dynamics in the Compton X-ray ring
за авторством: Bulyak, E.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

Study of additives on speed hydration of calcium oxide by x-ray analysis
за авторством: V. M. Bogatyrev, та інші
Опубліковано: (2014)

Studies of CdHgTe as a material for x- and γ-ray detectors
за авторством: Kosyachenko, L.A., та інші
Опубліковано: (2003)

X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides
за авторством: Gel, P.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Studies of x-ray radiation on the Plasma Focus Facility PF-3
за авторством: Krauz, V.I., та інші
Опубліковано: (2003)

Calibration of X-ray space telescopes
за авторством: Shchagin, A.V., та інші
Опубліковано: (2004)

Magnets of the injection channel for the X-ray generator ”NESTOR”
за авторством: Ivashchenko, V.Ye., та інші
Опубліковано: (2011)

Spectra of pyroelectric X-ray generator
за авторством: Nagaychenko, V.I., та інші
Опубліковано: (2004)

X-ray phase and structural study of Ce–Zn–Ga alloys
за авторством: Yu. V. Verbovytskyy
Опубліковано: (2024)

SANS and x-ray studies of structural transitions in impurity-helium gel samples
за авторством: V. B. Efimov, та інші
Опубліковано: (2020)

The start of X-ray generator NESTOR comissioning
за авторством: Androsov, V., та інші
Опубліковано: (2013)

Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study
за авторством: Strelchuk, V.V., та інші
Опубліковано: (2005)

Study of the structural features of multilayer carbon nanotubes by X-ray analysis
за авторством: E. A. Lysenkov, та інші
Опубліковано: (2015)

On application of X-ray aproximation method for studying the substructure of sufficiently perfect samples
за авторством: Malykhin, S.V., та інші
Опубліковано: (2017)

Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray dynamical diffractometry of defect structure of garnet single crystals
за авторством: V. M. Pylypiv, та інші
Опубліковано: (2011)

Scattered X-ray radiation algorithmic compensation procedure in the X-ray imaging as an alternative to hardware methods
за авторством: Yu. Danyk, та інші
Опубліковано: (2021)

Metal micro-detectors: development of “transparent” position sensitive detector for beam diagnostics
за авторством: O. Fedorovich, O. Kovalchuk, V. Pugatch, O. Okhrimenko, D. Storozhyk, V. Kyva
Опубліковано: (2012)

Combi-cryostat for x-ray diffractometer
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017)

Mathematical Methods of X-ray Computed Tomography
за авторством: N. O. Tuliakova, та інші
Опубліковано: (2019)

X-Ray and Mцssbauer Studies of Iron-Containing Lithium—Manganese Spinel
за авторством: I. M. Hasiuk, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: I. L. Shulpina, та інші
Опубліковано: (2011)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

Using of X-pinch as a source in X-ray radiography studying of initial stage of wire explosion
за авторством: Agafonov, A.V., та інші
Опубліковано: (2006)

X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals
за авторством: Shul’pina, I.L., та інші
Опубліковано: (2011)

Energy characteristics of scintillators for X-ray introscop
за авторством: Ryzhikov, V., та інші
Опубліковано: (2004)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2010)

Minimization of dose load in algorithms of X-ray computed tomography
за авторством: L. A. Bulavin, та інші
Опубліковано: (2019)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Portable X-ray TV system
за авторством: V. A. Troitskij
Опубліковано: (2013)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
за авторством: M. I. Terebinskaja, та інші
Опубліковано: (2016)

Double- and triple-crystal X-ray diffractometry of microdefects in silicon
за авторством: Molodkin, V.B., та інші
Опубліковано: (2010)

High-sensitivity X-ray TV systems based on X-ray screens and CCD cameras with image accumulation
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2009)

Studies of run-away electron beams and hard x-ray emission in ISTTOK tokamak
за авторством: Jakubowski, L., та інші
Опубліковано: (2011)

Scanning X-ray systems based on miniature solid-state transducers
за авторством: V. O. Troitskyi, та інші
Опубліковано: (2020)