X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
Збережено в:
| Дата: | 2016 |
|---|---|
| Автори: | M. I. Terebinskaja, O. I. Tkachuk, V. V. Lobanov |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
2016
|
| Назва видання: | Surface |
| Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000703954 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009)
X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010)
X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005)
Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)
Investigation of the optical coatings on the DKDP single crystals by X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
за авторством: Yu. Loya, та інші
Опубліковано: (2004)
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
за авторством: Kravets, V.G., та інші
Опубліковано: (2005)
X-ray photoelectron spectroscopy of nanopowders of ZrO₂-Y₂O₃-Cr₂O₃ compounds
за авторством: Korduban, A.M., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Korduban, A.M., та інші
Опубліковано: (2007)
Study of Mn2-хCoxP2O7·5H2O, at x=0, using X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
Study of the electronic structure of Mn2-хCoxP2O7·5H2O at x=0.6, using X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
Electronic Structure of GdMeO3 (Me = V, Ni) Oxides: X-Ray Photoelectron and X-Ray Fluorescence Spectra and Band Structure Calculations
за авторством: V. M. Uvarov, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: V. M. Uvarov, та інші
Опубліковано: (2013)
X-ray photoelectron spectroscopic study of the electronic structure of Mn₂₋ₓCoₓP₂O₇·5H₂O, at x=1.0
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
за авторством: Smolyak Svitlana, та інші
Опубліковано: (2025)
Determination of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection
за авторством: Balovsyak, S.V., та інші
Опубліковано: (2003)
за авторством: Balovsyak, S.V., та інші
Опубліковано: (2003)
Auger electron spectroscopy of boron nitride whiskers produced in optical furnace without catalysts
за авторством: Sartinska, L.L., та інші
Опубліковано: (2009)
за авторством: Sartinska, L.L., та інші
Опубліковано: (2009)
Role of surface structure in photoelectron emission from solid Ne: impurities, defect and low-coordinated sites
за авторством: Yu. A. Dmitriev
Опубліковано: (2012)
за авторством: Yu. A. Dmitriev
Опубліковано: (2012)
Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)
Centaurus A as a plausible source of ultra high energy cosmic rays registered by the Pierre Auger Observatory
за авторством: O. B. Sushchov, та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: O. B. Sushchov, та інші
Опубліковано: (2012)
Features of Auger-emission in channeling
за авторством: I. A. Kossko, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: I. A. Kossko, та інші
Опубліковано: (2014)
Scanning X-ray systems based on miniature solid-state transducers
за авторством: V. O. Troitskyi, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: V. O. Troitskyi, та інші
Опубліковано: (2020)
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics
за авторством: Ivanov, V., та інші
Опубліковано: (2012)
за авторством: Ivanov, V., та інші
Опубліковано: (2012)
X-ray photoelectron spectra and features of the electronic-energy structure of oxygen-stabilized phases of Zr4Fe2O and Zr4Ni2O
за авторством: A. A. Lavrentev, та інші
Опубліковано: (2014)
за авторством: A. A. Lavrentev, та інші
Опубліковано: (2014)
Results from the Pierre Auger Observatory
за авторством: R. Љmнda
Опубліковано: (2012)
за авторством: R. Љmнda
Опубліковано: (2012)
X-ray mini testing technology based on solid plane-parallel detectors
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: V. A. Troitskij, та інші
Опубліковано: (2017)
X-ray absorption near edge spectroscopy of thermochromic phase transition in CuMoO4
за авторством: I. Jonane, та інші
Опубліковано: (2018)
за авторством: I. Jonane, та інші
Опубліковано: (2018)
X-ray absorption and Raman spectroscopy studies of tungstates solid solutions ZncNi1–cWO4 (c = 0.0–1.0)
за авторством: G. Bakradze, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: G. Bakradze, та інші
Опубліковано: (2020)
The Structure Features of Synthetic Apatites With REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: II. Fluorhydroxyapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2016)
The Structure Features of Synthetic Apatites with REE Impurities by Data of Spectroscopy and X-Ray Analysis Methods: I. Hydroxylapatites
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2015)
за авторством: E. A. Kalinichenko, та інші
Опубліковано: (2015)
The research of X-ray and gamma radiation absorption by layered structures
за авторством: Deiev, O.S., та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: Deiev, O.S., та інші
Опубліковано: (2016)
The Pierre Auger observatory: Studying the highest energy frontier
за авторством: I. Valiño
Опубліковано: (2019)
за авторством: I. Valiño
Опубліковано: (2019)
The Pierre Auger observatory: Studying the highest energy frontier
за авторством: I. Valiño
Опубліковано: (2019)
за авторством: I. Valiño
Опубліковано: (2019)
Techniques for x-ray focusing
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
за авторством: V. E. Storizhko, та інші
Опубліковано: (2010)
New trends in spectroscopy of solid nitrogen
за авторством: E. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: E. Savchenko, та інші
Опубліковано: (2019)
Relative sensitivity of X-Ray TV systems based on pulsed X-Ray units
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)
за авторством: N. G. Belyj, та інші
Опубліковано: (2013)
Photoelectron emission from Si–Gd–O cathode
за авторством: M. G. Nakhodkin, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: M. G. Nakhodkin, та інші
Опубліковано: (2016)
Photoelectron emission from Si–Gd–O cathode
за авторством: M. H. Nakhodkin, та інші
Опубліковано: (2016)
за авторством: M. H. Nakhodkin, та інші
Опубліковано: (2016)
Combi-cryostat for x-ray diffractometer
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017)
за авторством: I. S. Bondar, та інші
Опубліковано: (2017)
Thermoelectric Coolers for X-Ray Detectors
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2020)
за авторством: L. I. Anatychuk, та інші
Опубліковано: (2020)
Parametric X-ray radiation in polycrystals
за авторством: Alekseev, V.I., та інші
Опубліковано: (2019)
за авторством: Alekseev, V.I., та інші
Опубліковано: (2019)
Thermoactivation spectroscopy of solid Ar doped with N₂
за авторством: Ponomaryov, A.N., та інші
Опубліковано: (2007)
за авторством: Ponomaryov, A.N., та інші
Опубліковано: (2007)
Surface photovoltage spectroscopy research of solar silicon recombination parameters
за авторством: V. G. Litovchenko
Опубліковано: (2015)
за авторством: V. G. Litovchenko
Опубліковано: (2015)
Схожі ресурси
-
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009) -
X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008) -
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010) -
X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005) -
Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)