X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface
Збережено в:
Дата: | 2016 |
---|---|
Автори: | M. I. Terebinskaja, O. I. Tkachuk, V. V. Lobanov |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2016
|
Назва видання: | Surface |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000703954 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
The analysis of a nanoparticles surface by X - ray photoelectronic spectroscopy
за авторством: K. H. Lopatko, та інші
Опубліковано: (2009) -
X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008) -
Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films
за авторством: A. N. Stervoedov, та інші
Опубліковано: (2010) -
X-ray photoelectron spectroscopy of the interface formation on cleavage surfaces of the layered semiconductor In₄Se₃ crystals
за авторством: Galiy, P.V., та інші
Опубліковано: (2005) -
Investigation of structure surface of the sorbent-catalyst modified by MnO2 X-ray photoelectron spectroscopy
за авторством: I. V. Jakupova, та інші
Опубліковано: (2016)