Pekar, G. S., Singaevsky, A. A., & Singaevsky, A. F. (2016). Automated method for determining the etch pits density on crystallographic planes of large semiconductor crystals.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Pekar, G. S., A. A. Singaevsky, та A. F. Singaevsky. Automated Method for Determining the Etch Pits Density on Crystallographic Planes of Large Semiconductor Crystals. 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Pekar, G. S., et al. Automated Method for Determining the Etch Pits Density on Crystallographic Planes of Large Semiconductor Crystals. 2016.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.