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The charge trapping/emission processes in silicon nanocrystalline nonvolatile memory assisted by electric field and elevated temperatures

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2016
Hauptverfasser:	V. A. Ievtukh, V. V. Ulyanov, A. N. Nazarov
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2016
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714544
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