Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., . . . Rudenko, M. P. (2016). Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Voitovych, V. V., R. M. Rudenko, V. O. Yuchymchuk, M. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. G. Kolosiuk, Yu Povarchuk, I. M. Khachevich, та M. P. Rudenko. Effect of Tin on Structural Transformations in the Thin-film Silicon Suboxide Matrix. 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Voitovych, V. V., et al. Effect of Tin on Structural Transformations in the Thin-film Silicon Suboxide Matrix. 2016.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.