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Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2016
Hauptverfasser:	V. V. Voitovych, R. M. Rudenko, V. O. Yuchymchuk, M. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. G. Kolosiuk, Yu. Povarchuk, I. M. Khachevich, M. P. Rudenko
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	2016
Schriftenreihe:	Ukrainian journal of physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000723819
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