Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix

Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2016
Автори:	V. V. Voitovych, R. M. Rudenko, V. O. Yuchymchuk, M. V. Voitovych, M. M. Krasko, A. G. Kolosiuk, Yu. Povarchuk, I. M. Khachevich, M. P. Rudenko
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	2016
Назва видання:	Ukrainian journal of physics
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000723819
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
за авторством: V. V. Voitovych, та інші
Опубліковано: (2016)

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Formation of nanocrystalline silicon in tin-doped amorphous silicon films
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2020)

Behavior of hydrogen during crystallization of thin silicon films doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Formation of nanocrystalline silicon in tin-doped amorphous silicon films
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2020)

Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin
за авторством: R. M. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Вплив олова на структурнi перетворення тонкоплiвкової субоксидної матрицi кремнiю
за авторством: Voitovych, V. V., та інші
Опубліковано: (2019)

Influence of divacancy-oxygen defects on recombination properties of n-Si subjected to irradiation and subsequent annealing
за авторством: M. M. Krasko, та інші
Опубліковано: (2018)

Influence of divacancy-oxygen defects on recombination properties of n-Si subjected to irradiation and subsequent annealing
за авторством: M. M. Krasko, та інші
Опубліковано: (2018)

About suboxide form of oxygen in steels and cast irons
за авторством: V. G. Ivanov, та інші
Опубліковано: (2018)

Mechanisms of texture formation in thin-film systems Ni₁-xWx | TiN
за авторством: Sungurov, M.S., та інші
Опубліковано: (2018)

Doping by silicon and photovoltaic properties of thin thulium sesquisulfide films
за авторством: Z. U. Dzhabua, та інші
Опубліковано: (2014)

A study of electrodeposited thin tin films in cycling in aprotic solvents
за авторством: N. I. Globa, та інші
Опубліковано: (2014)

Tin doping effect on crystallization of amorphous silicon obtained by vapor deposition in vacuum
за авторством: Neimash, V.B., та інші
Опубліковано: (2013)

Hydrogen plasma treatment of silicon thin-film structures and nanostructured layers
за авторством: Nazarov, A.N., та інші
Опубліковано: (2008)

Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Najafov, та інші
Опубліковано: (2013)

Optoelectronic properties of hydrogenated amorphous silicon–carbon and nanocrystalline-silicon thin films
за авторством: B. A. Nadzhafov, та інші
Опубліковано: (2013)

Вплив дефектів дивакансія-кисень на рекомбінаційні властивості n-Si після опромінення та наступного відпалу
за авторством: Kras’ko, M. M., та інші
Опубліковано: (2018)

Tin doping effect on crystallization of amorphous silicon, obtained by vapor deposition in vacuum
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2013)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry
за авторством: K. M. Al-Adamat, та інші
Опубліковано: (2021)

Revision of interface coupling in ultra-thin body silicon-on-insulator MOSFETs
за авторством: T. Rudenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Revision of interface coupling in ultra-thin body silicon-on-insulator MOSFETs
за авторством: Rudenko, T., та інші
Опубліковано: (2013)

Influence of the thermally activated structural converting in the tin dioxide thin film on their electric properties
за авторством: G. S. Khripunov, та інші
Опубліковано: (2014)

Influence of surface and intergrain boundaries scattering mechanisms of current carriers in thin films based on tin telluride
за авторством: D. M. Freik, та інші
Опубліковано: (2014)

Scanning Acoustic Microscopy of Annealing Effects for Aluminium Thin Film Deposited on Silicon Substrate
за авторством: Chafia Atailia, та інші
Опубліковано: (2018)

Influence of tin impurity on degradation of conductivity in electron-irradiated n-Si
за авторством: M. M. Krasko
Опубліковано: (2013)

Influence of tin impurity on degradation of conductivity in electron-irradiated n-Si
за авторством: M. M. Krasko
Опубліковано: (2013)

Influence of tin impurity on recombination characteristics in γ-irradiated n-Si
за авторством: M. M. Krasko
Опубліковано: (2012)

Influence of tin impurity on recombination characteristics in γ-irradiated n-Si
за авторством: M. M. Krasko
Опубліковано: (2012)

Some thermodynamic effects in thin film adhesion
за авторством: Chornous, A.M., та інші
Опубліковано: (2005)

The influence of size effects on thin films local piezoelectric response of thin films
за авторством: Morozovska, A.N., та інші
Опубліковано: (2007)

Optical size effects in thin gold films
за авторством: Kovalenko, S.A., та інші
Опубліковано: (2002)

Mechanism of tin-induced crystallization in amorphous silicon
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2014)

Mechanism of tin-induced crystallization in amorphous silicon
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2014)

Raman scattering in the process of tin-induced crystallization of amorphous silicon
за авторством: V. Neimash, та інші
Опубліковано: (2016)

Evidence for photochemical transformations in porous silicon
за авторством: Shevchenko, V.B., та інші
Опубліковано: (1999)

Raman scattering in the process of tin-induced crystallization of amorphous silicon
за авторством: V. B. Neimash, та інші
Опубліковано: (2016)

Size effects in thin PbSe films
за авторством: E. I. Rogacheva, та інші
Опубліковано: (2012)