Shafranyuk, V. P. (2016). Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Shafranyuk, V. P. Study of Damaged Layer Depth in Thermoelectric Materials by X-ray Diffraction Interferometry. 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Shafranyuk, V. P. Study of Damaged Layer Depth in Thermoelectric Materials by X-ray Diffraction Interferometry. 2016.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.