Зображення обкладинки

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2016
Автор:	V. P. Shafraniuk
Формат:	Стаття
Мова:	Англійська
Опубліковано:	2016
Назва видання:	Journal of thermoelectricity
Онлайн доступ:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000762951
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine \| LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafraniuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Investigation of damaged layer formed at mechanical treatment of sapphire using three-crystal X-ray diffraction method
за авторством: Tkachenko, V.F., та інші
Опубліковано: (2014)

Influence of absorption level on mechanisms of Braggdiffracted x-ray beam formation in real silicon crystals
за авторством: Klad'ko, V. P., та інші
Опубліковано: (1999)

Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)

Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction
за авторством: Malykhin, S.
Опубліковано: (2007)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B₅₂, by powder X-ray diffraction
за авторством: Kurakevych, O.O., та інші
Опубліковано: (2013)

Crystal structure of dense pseudo-cubic boron allotrope, pc-B52, by powder X-ray diffraction
за авторством: O. O. Kurakevych, та інші
Опубліковано: (2013)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

Research on structural perfection of CdSb thermoelectric materials using Kh-ray diffraction methods
за авторством: V. P. Shafranjuk, та інші
Опубліковано: (2017)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

Microstructure Characterization of Nanocrystalline Ni₅₀Ti₅₀ Alloy Prepared Via Mechanical Alloying Method Using the Rietveld Refinement Method Applied to the X-Ray Diffraction
за авторством: Sakher, E., та інші
Опубліковано: (2017)

A method of analysis of the shapes of X-ray diffraction lines not requiring a transition to the space of an object
за авторством: N. M. Rozhenko, та інші
Опубліковано: (2019)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)

Mechanisms of the high-temperature internal stresses relaxation during creep in alkali-halide single crystals
за авторством: Matsokin, V.P., та інші
Опубліковано: (2006)

X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

X-ray diffraction method application to assess the energy losses on explosive-rock contact under various blasting
за авторством: I. Kratkovskyi, та інші
Опубліковано: (2020)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

Research of the elastic wave velocity dispersion in X-ray-irradiated LiF crystals
за авторством: G. O. Petchenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Research of the elastic wave velocity dispersion in X-ray-irradiated LiF crystals
за авторством: H. O. Petchenko, та інші
Опубліковано: (2013)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

X-ray photoelectron spectroscopy of Sn₂P₂S₆ crystals
за авторством: Grigas, J., та інші
Опубліковано: (2008)

X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al₂O₃ (0001) substrates
за авторством: Safriuk, N.V., та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: V. P. Kladko, та інші
Опубліковано: (2010)

X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures
за авторством: Kladko, V.P., та інші
Опубліковано: (2010)