Influence of Ge isovalent impurity and thermoannealings on the electrophysical properties of silicon crystals
Gespeichert in:
| Datum: | 2016 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | H. P. Haidar, P. I. Baranskyi |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2016
|
| Schriftenreihe: | Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine |
| Online Zugang: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000816047 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Institution
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASÄhnliche Einträge
-
Investigation of the influence of isovalent impurity of silicon and -irradiation (60Co) on electrophysical parameters of n-Ge Sb
von: G. P. Gaidar
Veröffentlicht: (2014) -
Investigation of the influence of isovalent impurity of silicon and y-irradiation (⁶⁰Co) on electrophysical parameters of n-Ge <Sb>
von: Gaidar, G.P.
Veröffentlicht: (2014) -
Changes in electrophysical properties of heavily doped n-Ge <As> single crystals under the influence of thermoannealings
von: Gaidar, G.P.
Veröffentlicht: (2015) -
Influence of thermoannealings at 450 and 650 oC on the tensoresistance and anisotropy parameter in mobility of silicon single crystals
von: P. I. Baranskyi, et al.
Veröffentlicht: (2014) -
Changes in electrophysical properties of heavily doped n-Ge <As> single crystals under the influence of thermoannealings
von: G. P. Gaidar
Veröffentlicht: (2015)