Venger, E. F., Melnichuk, Y., Melnichuk, A. V., & Semikina, T. V. (2016). IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Venger, E. F., Yu Melnichuk, A. V. Melnichuk, та T. V. Semikina. IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method. 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Venger, E. F., et al. IR Spectroscopic Study of Thin ZnO Films Grown Using the Atomic Layer Deposition Method. 2016.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.