Optical reflectometer based on the method of spectral interferometry
Збережено в:
Дата: | 2015 |
---|---|
Автори: | K. A. Lukin, D. N. Tatjanko, Ju. A. Shijan, L. V. Jurchenko, A. V. Bazakutsa |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2015
|
Назва видання: | Radiophysics and Electronics |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000431304 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
Measurement of thicknesses of optically transparent layered structures by the spectral interferometry method
за авторством: K. A. Lukin, та інші
Опубліковано: (2017) -
Prediction of breaking pressure of a pipe with internal surface defect with application of laser interferometry methods
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2016) -
Diagnostics of structures using methods of electron shearography and speckle-interferometry
за авторством: L. M. Lobanov, та інші
Опубліковано: (2013) -
Holographic interferometry under phase distortions
за авторством: Derzhypolska, L.A., та інші
Опубліковано: (2006) -
Improvement of Geophysical Instruments Based on Digital Laser Interferometry
за авторством: Britsky, O. I.
Опубліковано: (2013)