The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model
Збережено в:
Дата: | 2015 |
---|---|
Автори: | V. V. Lizunov, E. V. Kochelab, E. S. Skakunova, E. G. Len, V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskij, N. G. Tolmachjov, B. V. Sheludchenko, S. V. Lizunova, L. N. Skapa |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2015
|
Назва видання: | Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies |
Онлайн доступ: | http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454326 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS |
Репозитарії
Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNASСхожі ресурси
-
The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. II. Numerical experiment
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2015) -
Dispersion Effects of Interconnection of the Scattering Pattern Dependences on Different Diffraction Conditions and Huge Intensification of These Dependences and Their Structure Sensitivity and Informativeness
за авторством: L. N. Skapa, та інші
Опубліковано: (2015) -
The Phenomenon of Intensification (by Several Orders of Magnitude) Defects' Manifestation in the Multiple-Scattering Pattern and Its Dispersive Nature
за авторством: V. V. Lizunov, та інші
Опубліковано: (2014) -
Basic physics of multiparameter crystallography: diagnostics of defects of several types in single-crystal materials and articles of nanotechnologies
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2011) -
Quantum-Mechanical Model of Interconsistent Amplitude and Dispersion Influences of Structure Imperfections on the Multiple Scattering Pattern for Mapping and Characterization of Strains and Defects in Ion-Implanted Garnet Films
за авторством: V. B. Molodkin, та інші
Опубліковано: (2015)