The dispersion sensitivity of scattering pattern to defects depending on thickness of crystalline products of nanotechnologies. I. Theoretical model

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2015
Автори: V. V. Lizunov, E. V. Kochelab, E. S. Skakunova, E. G. Len, V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskij, N. G. Tolmachjov, B. V. Sheludchenko, S. V. Lizunova, L. N. Skapa
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: 2015
Назва видання:Nanosystems, nanomaterials, nanotechnologies
Онлайн доступ:http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000454326
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Репозитарії

Library portal of National Academy of Sciences of Ukraine | LibNAS

Схожі ресурси